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Ge ハットクラスタからのLEED 図形
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| File / Name | License |
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| Ge ハットクラスタからのLEED 図形 |
.png)
Creative Commons : 表示 - 非営利 - 改変禁止 |
Ge ハットクラスタからのLEED 図形
(1.31MB)
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| タイトル(英) | LEED Pattern from Ge Hut Cluster |
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| アイテムタイプ | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper |
| 言語 | 日本語 |
| キーワード |
低速電子回折, ゲルマニウム, ハットクラスタ, 回折斑点 |
| キーワード(英) | low energy electron diffraction (LEED), Germanium (Ge), hut cluster, diffraction spot |
| 著者 |
堀尾 吉已
/ ホリオ ヨシミ
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| 著者（英） |
Yoshimi Horio
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| 雑誌名 | 大同大学紀要 |
| 雑誌名(英) | Bulletin of Daido University |
| 巻 | 49 |
| ページ | 119 - 123 |
| 発行年 | 2013-12 |
| 出版者 |
大同大学研究・産学連携支援室
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| ISSN |
21852375
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